Tag:

conferencia internacional de Calidad y Estadística Aplicada

julio 20, 2018

Culminó con éxito la conferencia internacional sobre calidad y estadística aplicada – Cicea 2018

Alrededor de 200 personas, entre ellas; expertos, empresarios, profesionales y estudiantes, se reunieron para profundizar en el análisis de datos, la estadística y su aplicación en los diferentes ámbitos de la sociedad.

julio 11, 2018

Exponen expertos de la Nasa y de universidades de Chile, España, EE.UU. y Perú

Pensadores, científicos e ingenieros estadísticos de talla mundial participarán en la Conferencia Internacional de Calidad y Estadística aplicada, que se desarrollará en Campus Lima del 17 al 19 de julio.

junio 28, 2018

¿Por qué implementar soluciones Big Data en las organizaciones?

El Big Data no es más que el tratamiento masivo de información, estructurada y no estructurada, que se genera en un negocio día tras día. Lo importante es cómo gestionan estos datos las empresas.

junio 21, 2018

Ingeniero estadístico de la NASA dictará conferencias en la UDEP

En el marco de la III Conferencia Internacional de Calidad y Estadística Aplicada, llegará a nuestro país, Peter Parker, Ingeniero estadístico de la Administración Nacional de la Aeronáutica y del Espacio (NASA).

junio 18, 2018

UDEP reconocerá investigaciones relacionadas al Big Data

En la III edición de la Conferencia Internacional de Calidad y Estadística Aplicada, la Facultad de Ingeniería revisará trabajos relacionados al Big Data, Six Sigma o a la estadística en general.

junio 12, 2018

¿Cómo aporta la Ingeniería de Datos a las estrategias de las organizaciones?

El PhD Geoff Vining, profesor de Estadística de Virginia Tech University y consultor de la NASA y el Departamento de Defensa de Estados Unidos, explica cómo la ciencia de los datos impacta en los negocios.

junio 12, 2018

UDEP realizará III edición de la Conferencia Internacional de Calidad y Estadística Aplicada

El evento se realizará del 17 al 19 de julio en el Campus Lima de la Universidad de Piura.